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本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种基于MCU结温获取环境温度的方法及装置。所述MCU自带的结温采集功能，获取芯片结温的实时数据，再根据所得功耗值和环境温度值，计算出环境温度到结的热阻系数值；当所述MCU处于不同工作状态下时，可根据读取到的...
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