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本发明涉及一种能够在宽的波长范围内选择X射线管阳极靶材的某一特征X射线，测量被测晶体材料样品X射线衍射谱的多波长特征X射线衍射测量装置和方法。其装置包括X射线管、高压发生器、狭缝、测角仪、探测器、多道分析器等。本发明免除了滤波片或晶体单色器...
该专利属于郑琪所有，仅供学习研究参考，未经过郑琪授权不得商用。

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