下载气相成长装置的污染量测定方法及磊晶晶片的制造方法的技术资料

文档序号:11450110

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进行气相蚀刻步骤,通过利用HCl气体的气相蚀刻来对气相成长装置的腔室内进行清洁(S1)。继而,实施热处理步骤,在氢气气氛下对既定片数的硅晶片逐片依次进行热处理步骤(S2、S3)。以既定次数重复实施这些气相蚀刻步骤及热处理步骤。即,当未到达既...
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