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一种半导体芯片重测系统，其是由一个控制装置与一测试装置所组成，其重测方法是利用控制装置设定一最终重测次数，并且利用测试装置进行半导体芯片的一初始测试与一重新测试，以达到增进生产效率、降低生产错误以及简化生产流程的目的。...
该专利属于京元电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京元电子股份有限公司授权不得商用。

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