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本发明公开了一种接触式CPU芯片生产测试方法，接触式CPU芯片上电后，首先判断该接触式CPU芯片处于何种模式；如果为非测试模式，则直接进入应用模式，此时接触式CPU芯片仍采用内部时钟作为其工作时钟；如果为测试模式，则测试接触式CPU芯片所有...
该专利属于上海华虹集成电路有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹集成电路有限责任公司授权不得商用。

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