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本发明公开了一种纳米级薄膜样品测试仪，包括反射机构和温度控制机构，所述反射机构包括偏振片、第一反射镜、第二反射镜；所述温度控制机构包括热台、制冷片、冷却水块、红外测温传感器，热台与红外测温传感器通过导线与温控器相连；红外测温传感器通过传感器...
该专利属于青岛嘉和兴制粉有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过青岛嘉和兴制粉有限公司授权不得商用。

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