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一种嵌入式闪存的形成方法,包括:提供半导体衬底,半导体衬底包括存储区域和外围电路区域;在半导体衬底的存储区域上形成栅极堆叠层;在栅极堆叠层上形成间隔排列的侧墙;沿着侧墙之间的间隔刻蚀栅极堆叠层,以在栅极堆叠层内形成沟槽;在沟槽以及间隔内形成...该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。
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一种嵌入式闪存的形成方法,包括:提供半导体衬底,半导体衬底包括存储区域和外围电路区域;在半导体衬底的存储区域上形成栅极堆叠层;在栅极堆叠层上形成间隔排列的侧墙;沿着侧墙之间的间隔刻蚀栅极堆叠层,以在栅极堆叠层内形成沟槽;在沟槽以及间隔内形成...