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本发明涉及一种半导体器件的检测结构，至少包括并联连接于第一电源和第二电源之间的第一反相器和第二反相器；其中，所述第一反相器的输出端连接于所述第一反相器的输入端，所述第二反相器的输入端连接于所述第一反相器的输入端；所述第一反相器的输入端连接输...
该专利属于中芯国际集成电路制造（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中芯国际集成电路制造（上海）有限公司授权不得商用。

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