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本发明公开了一种用于集成电路板测试点布局方法，该方法包含如下步骤：根据集成电路板的面积大小、同一功能的测试点数量，选定测试点模块位置；根据选定所述测试点模块位置的面积大小、同一功能的测试点数量，在所述集成电路板上布局所述测试点模块；根据所述...
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