温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明涉及一种半导体点式测温系统，所述系统利用半导体材料在入射光波长不变时其光反射率随着温度的变化而变化这一特性，通过测量半导体材料反射光的强弱来实现对被测对象进行测温。本发明具有高绝缘性、抗电磁干扰、抗腐蚀、防爆、防雷击的特点，能在恶劣的...该专利属于深圳供电局有限公司;上海华魏光纤传感技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳供电局有限公司;上海华魏光纤传感技术有限公司授权不得商用。