【技术实现步骤摘要】
一种半导体点式测温系统
本专利技术涉及电力设备综合监控领域使用的传感检测系统
，尤其涉及一种 半导体点式测温系统。
技术介绍
工农业生产中的许多电力设备，例如高压开关柜、高压电缆等都在高电压、大电流 的状态下运行。由于在使用过程中的机械振动、触头烧蚀等原因，可能造成接触处温度升 高，引起接触处的氧化，使接触电阻进一步增加，温度进一步上升，继而出现局部熔焊或产 生火花甚至电弧放电，殃及周围绝缘材料，最终造成电气设备的损坏，引发事故。而对于电 气连接部位，例如高压开关柜触头及接点、干式变压器、箱式变电站、变电站、高压母线接 头、高压电缆接头、刀闸开关等在长期运行过程中，因老化或接触电阻过大而发热现象时有 发生；同时，由于供电负荷过大，电机开停时的冲击电流，加速了开关柜以及电缆接头的老 化，近年来已发生多起开关柜连接点、电缆头过热造成的停电事故。因此，对电力设备温度 的监测，实行电力设备运行状态监测和故障诊断技术，意义重大。 目前对电力设备或者电气连接点的监测手段大多采用手持式红外线测温仪定期 进行，难以实现安全准确测温，设备缺乏跟踪监测手段，不能及时发现设备发热点，并且设 备的安全可靠性得不到有效保证。
技术实现思路
针对上述部分问题，本专利技术提供了一种半导体点式测温系统，所述系统利用半导 体材料在入射光波长不变时其光反射率随着温度的变化而变化这一特性，通过测量透过半 导体材料的光的强弱来实现对被测对象进行测温。 本专利技术具有如下特点： (1)所述系统的温度检测探头具有高绝缘性、抗电磁干扰、抗腐蚀...
【技术保护点】
一种半导体点式测温系统，其特征在于：所述系统利用半导体材料在入射光波长不变时其光反射率随着温度的变化而变化这一特性，通过测量半导体材料反射光的强弱来实现对被测对象进行测温。
【技术特征摘要】
1. 一种半导体点式测温系统，其特征在于： 所述系统利用半导体材料在入射光波长不变时其光反射率随着温度的变化而变化这 一特性，通过测量半导体材料反射光的强弱来实现对被测对象进行测温。2. 根据权利要求1所述的系统，其特征在于：所述系统包括主机，所述主机中包括光分 路器模块、光电转换模块、信号放大转换模块和数据处理模块； 其中，所述光分路器模块用于将多个传感器传回的光信号分发到所述光电转换模块 中，由所述光电转换模块中相应的光电转换器进行光信号到电信号的转换，经过转换得到 的电信号进入所述信号放大转换模块，在所述信号放大转换模块中电信号被放大并进行模 数转换后传给所述数据处理模块，在所述数据处理模块中计算出温度值； 所述系统还包括温度检测探头，所述温度检测探头通过光纤与主机上的温度检测探头 接口相连，所述温度检测探头将半导体材料均匀镀在光纤轴向的横截端面上，再通过陶瓷 管和航空胶将镀好半导体膜的光纤封装而成。3. 根据权利要求2所述的系统，其特征在于：优选的，所述主机采用插板式可扩展面板 设计，所述面板上包括电源插孔、通信接口和温度检测探头接口。4. 根据权利要求3所述的系统，其特征在于：所述温度检测探头使用封装套管封装，所 述封装套管的一端有一突出的空心圆柱，所述空心圆柱的横截面为圆环，所述圆环的外径 小于所述封装套...
【专利技术属性】
技术研发人员：张欣，黄荣辉，向真，仝芳轩，张宁，
申请(专利权)人：深圳供电局有限公司，上海华魏光纤传感技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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