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本发明涉及一种光电元件检测用的高频探针卡，包含有一具有一第一开口及至少一第一通孔的基板、一设于基板且具有一第二开口及至少一第二通孔的间隔板、一底面设于间隔板且具有一第三开口及至少一第三通孔的电路板，以及一固设于基板且包含有至少一接地探针及至...
该专利属于旺矽科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过旺矽科技股份有限公司授权不得商用。

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