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一种结合了扫描云纹技术和灰度共生矩阵处理方法的纳米多孔材料表征方法，通过扫描电子显微镜拍摄被测纳米多孔材料的云纹条纹图像，并采用灰度共生矩阵方法处理该云纹条纹图，以获得其条纹分布的统计学特征，利用几何云纹法的基本公式，可由获得的云纹条纹图中...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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