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提供一种用于分析装置环境的方法和介质，以及一种使用所述方法和介质的装置。所述装置可包括：振动单元，使装置振动；感测单元，感测装置的振动，其中，感测的振动形成振动式样；和判断单元，根据由感测单元感测的装置的振动式样来判断装置的环境。...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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