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本发明公开了一种微波器件可靠性测试装置及其测试方法,涉及测量电变量的装置或方法技术领域。所述方法包括以下步骤:选择微波器件的滤波电容;将所述滤波电容烧结在管壳内;将微波器件管芯烧结在管壳内;将滤波电容键合在管壳输入端子上;将管芯键合在管壳输...该专利属于中国电子科技集团公司第十三研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子科技集团公司第十三研究所授权不得商用。
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本发明公开了一种微波器件可靠性测试装置及其测试方法,涉及测量电变量的装置或方法技术领域。所述方法包括以下步骤:选择微波器件的滤波电容;将所述滤波电容烧结在管壳内;将微波器件管芯烧结在管壳内;将滤波电容键合在管壳输入端子上;将管芯键合在管壳输...