温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种测试治具和测试方法，该测试治具包括：环形基座，包含第一环形台和第二环形台，第二环形台位于第一环形台的内侧，且第二环形台的台面低于第一环形台的台面，第二环形台的台面上设有第一对准标识；环形主体，包含第三环形台和至少三个卡角结构，...
该专利属于南通富士通微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南通富士通微电子股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。