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本发明公开了一种集成电路的针脚检测方法及装置，方法包括以下步骤，载入待检测集成电路的外观图像，标记该外观图像中的针脚部分为待检测区域；扫描待检测区域中每个针脚图像的最外围像素，并用矩形将其标记为待验证针脚框；针对待验证针脚框进行判断，若同时...
该专利属于深圳市浦洛电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市浦洛电子科技有限公司授权不得商用。

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