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本发明提供一种二维干涉图的相位提取方法，具体过程为：设定参考频率，基于所述参考频率生成含一定相移量的多幅参考干涉图，将所述参考干涉图称为虚光栅；将待处理干涉图与每一虚光栅相乘，得到多幅莫尔条纹图；对每一幅莫尔条纹图进行傅里叶变换，得到莫尔条...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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