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半导体晶片的正向电压偏差减少方法技术
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文档序号:10660272
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本发明提供一种正向电压的偏差减少方法,其为减少如下的半导体晶片的正向电压Vf的偏差的方法,所述半导体晶片为N型的半导体晶片,并且在俯视观察半导体晶片时N层中所含有的杂质的密度存在偏差。本说明书所公开的正向电压偏差减少方法为,向N型的半导体晶...
该专利属于丰田自动车株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过丰田自动车株式会社授权不得商用。
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