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本发明提供了一种用于文字压痕的三维显现方法，该方法将相位测量轮廓术用于文件隐藏印压痕迹的显现测量中。基于相位测量轮廓术的物体表面三维面形测量方法是一种高精度、快速、非接触、非相干的光学全场测量技术，并且实验装置简单，主要包括计算机、数码相机...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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