【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了，该方法将相位测量轮廓术用于文件隐藏印压痕迹的显现测量中。基于相位测量轮廓术的物体表面三维面形测量方法是一种高精度、快速、非接触、非相干的光学全场测量技术，并且实验装置简单，主要包括计算机、数码相机和投影仪。将相位测量轮廓术用于文字压痕显现测量中可以直接得到待测表面的高度分布，从而定量的获得待测表面的文字痕迹，利用得到的高度数据可以识别待测表面的潜在文字，同时也可以根据字体的形状以及字体不同位置的深浅进行字迹比对检测，从而判定文字的写作者，在司法鉴定上有重要应用。本专利技术的主要增益：提供了一种高精度、快速、全场的文字压痕的测量方法。【专利说明】
本专利技术涉及将基于相位测量轮廓术的三维测量方法用于文字压痕的高精度显现 测量的
。
技术介绍
随着生物识别技术的不断发展，笔迹识别技术已成为计算机视觉和模式识别领域 一个重要研究课题，并已广泛应用到了公安、司法、考古、金融等各个领域。在司法鉴定领 域，文件压印字迹鉴定已成为主要内容之一。现有的文件压印字迹显现方法主要有以下几 种：第一，测光检测法，选用...
【技术保护点】
一种用于文字压痕的三维显现方法，包括以下几个步骤:步骤1、向待测表面上投影条纹，然后采集待测表面上的变形条纹图，待测表面的高度信息将被调制在变形条纹的相位中；步骤2、对采集到的变形条纹的光强图的相位信息进行分析解调，得到变形条纹的相位分布；步骤3、解调到的相位是不连续的，需将其进行相位展开；步骤4、得到展开相位后，通过相位测量轮廓术的相位高度关系获得待测表面的高度信息，然后即可对表面上的文字压痕进行文字识别和字迹鉴定。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：岳慧敏，吴雨祥，赵必玉，张博，易京亚，李明阳，刘永，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川;51
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