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基于双边带调制的光器件测量方法及测量装置制造方法及图纸
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下载基于双边带调制的光器件测量方法及测量装置的技术资料
文档序号:10529529
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本发明公开了一种基于双边带调制的光器件测量方法,属于光器件测量、微波光子学技术领域。首先利用光双边带调制方法将射频信号调制于第一光载波信号上,生成双边带调制信号;然后令双边带调制信号通过待测光器件后与第二光载波信号合束,所述第二光载波信号与...
该专利属于南京航空航天大学所有,仅供学习研究参考,未经过南京航空航天大学授权不得商用。
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