温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开一种发光二极体的量测装置用于量测多个覆晶式发光二极体，覆晶式发光二极体之间皆具有一间隙，发光二极体的量测装置包含晶片膜、光检测装置与遮光元件，晶片膜承载覆晶式发光二极体，光检测装置设置于晶片膜相对覆晶式发光二极体的一侧，光检测装置...
该专利属于致茂电子（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过致茂电子（苏州）有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。