下载一种芯片测试座的技术资料

文档序号:10431620

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本实用新型公开了一种芯片测试座,包括基座,所述基座下表面设置至少一对用于连接晶体管图示仪的引脚,所述一对引脚与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配;所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具,所述一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码...
该专利属于成都先进功率半导体股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过成都先进功率半导体股份有限公司授权不得商用。

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