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一种方法和电路安排，利用布置在多核心处理器集成电路器件或芯片上的扫描逻辑进行芯片的基于内部表决的内置自测(BIST)。在芯片内部生成测试模式，并将其传送给芯片上的多个处理核心内的扫描链。在芯片上相互比较扫描链输出的测试结果，将多数表决用于识...
该专利属于国际商业机器公司所有，仅供学习研究参考，未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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