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高抗拉强度并可降低交流电阻的圆形导体制造技术
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文档序号:10393861
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本发明公开了一种高抗拉强度并可降低交流电阻的圆形导体,包括内圆体、外圆体和正电荷存储体,外圆体套设于内圆体外部,内圆体和外圆体之间设有正电荷存储体,该正电荷存储体中存储有正电荷,内圆体和正电荷存储体之间设有第一绝缘层,正电荷存储体和外圆体之...
该专利属于北京联合大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京联合大学授权不得商用。
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