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本发明公开了一种用于测量有机薄膜的厚度的设备和具有该设备的有机薄膜沉积设备。所述用于测量有机薄膜的厚度的设备包括：基座；第一支撑件，结合到基座；第二支撑件，包括第一端和第二端，第一端连接到第一支撑件；检测器构件，连接到第二支撑件的第二端，以...
该专利属于三星显示有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过三星显示有限公司授权不得商用。

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