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本发明公开了一种存储单元的修复方法和装置,其中该方法包括:接收访问命令,其中,上述访问命令携带有访问地址和访问操作;判断上述访问地址中的行地址和列地址是否分别与预先记录的已失效存储单元的行地址和列地址相同;若上述访问地址中的行地址和列地址分...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种存储单元的修复方法和装置,其中该方法包括:接收访问命令,其中,上述访问命令携带有访问地址和访问操作;判断上述访问地址中的行地址和列地址是否分别与预先记录的已失效存储单元的行地址和列地址相同;若上述访问地址中的行地址和列地址分...