专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
LSI公司
>
基于保留漂移历史的非易失性存储器读取阈值最优化制造技术
>技术资料下载
下载基于保留漂移历史的非易失性存储器读取阈值最优化的技术资料
文档序号:10325312
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明涉及基于保留漂移历史的非易失性存储器读取阈值最优化。SSD控制器动态调整NVM中的读取阈值以减少由于装置阈值电压分布偏移而导致的错误,因此改善了诸如SSD的存储子系统的性能、可靠性和/或成本。保留漂移时钟使用在一个或多个NVM芯片上的...
该专利属于LSI公司所有,仅供学习研究参考,未经过LSI公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。