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一种通用光耦芯片测试装置制造方法及图纸
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文档序号:10315005
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本实用新型涉及一种通用光耦芯片测试装置,包括测试电路板(4)、带触摸屏的LCD显示屏(1)、按键(8)、PC机(9);其特征在于在测试电路板(4)中设置有主控CPU(14)、数控电流源(15)、模拟开关矩阵(16)、可替换封装的测试座(17...
该专利属于长江大学所有,仅供学习研究参考,未经过长江大学授权不得商用。
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