【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种通用光耦芯片测试装置，包括测试电路板（4）、带触摸屏的LCD显示屏（1）、按键（8）、PC机（9）；其特征在于在测试电路板（4）中设置有主控CPU（14）、数控电流源（15）、模拟开关矩阵（16）、可替换封装的测试座（17）、A/D转换（20）等；主控CPU（14）是整个测试装置的中央处理单元，所有控制信号、显示和数据采集分析处理都是由其完成的，在带触摸屏的LCD显示屏（1）上显示结果的同时也可以通过RS232连接器（12）将测试结果数据送至PC机（9）上；本技术能对各种光耦的性能进行全面的测试，能扩展测试芯片的型号，能进行故障自诊断和误差自校正，具有测试方法简单、自动化程度高的特点。【专利说明】一种通用光耦芯片测试装置
:本技术涉及一种通用光耦芯片测试装置，属集成电路测试
。
技术介绍
:光耦是以光为媒介来传输电信号的器件，是通过“电-光-电”转换把输入端信号率禹合到输出端的光电I禹合器，由于它具有体积小、寿命长、无触点、抗干扰能力强、输出和输入之间绝缘、单向传输信号及很强的共模抑制能力等优点，在数字电路上获得广泛的应...
【技术保护点】
一种通用光耦芯片测试装置，包括测试电路板（4）、带触摸屏的LCD显示屏（1）、按键（8）、PC机（9）；其特征在于在测试电路板（4）中设置有电源单元（13）、主控CPU（14）、数控电流源（15）、模拟开关矩阵（16）、可替换封装的测试座（17）、通信接口（18）、自诊断单元（19）、A/D转换（20）、电源连接器（3）、LCD屏连接器（5）、按键连接器（6）、RS232连接器（12）；测试电路板（4）上的LCD屏连接器（5）通过LCD屏连接电缆（2）与带触摸屏的LCD显示屏（1）相连接；测试电路板（4）上的按键连接器（6）通过按键连接电缆（7）与按键（8）相连接；测试电路...
【技术特征摘要】
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