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本实用新型涉及一种探针测试治具，用于测试包括多个屏体端子的屏体，包括绝缘基座及固定于绝缘基座上的若干探针和若干引线，绝缘基座具有两个相背的第一表面及第二表面，若干探针自所述第一表面背离该表面延伸形成，若干引线自所述第二表面背离该表面延伸形成...
该专利属于昆山国显光电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山国显光电有限公司授权不得商用。

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