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本发明公开了一种用于真空低温条件下的超大面源黑体校准系统。本系统包括转接接口、折转光学系统、成像镜组、调焦镜组、红外面阵探测器、信号处理单元；待测面源黑体与所述折转光学系统位于同一真空舱内，所述成像镜组通过所述转接接口与所述真空舱连接；所述...
该专利属于北京振兴计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京振兴计量测试研究所授权不得商用。

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