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本发明属于显微成像及光谱测量技术领域，将共焦显微技术与光谱探测技术相结合，涉及一种“图谱合一”的高分辨光谱成像与探测方法及装置，可用于各类样品的三维形貌重构及微区形态性能参数测量。该方法与装置利用传统共焦拉曼系统遗弃的瑞利光采用共焦技术对样...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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