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本发明提供的一种微纳米颗粒分散分布的分析评估方法，包括以下步骤：采集微纳米颗粒显微图像，并进行灰度化处理；采用OTSU大津法进行二值化处理，去除图像中的杂质点和无效连通域；利用形态学运算，分离相连的连通域，并填补连通域中的孔洞；添加虚拟颗粒...
该专利属于上海交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海交通大学授权不得商用。

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