温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种集成电路高温老化测试系统，包括上位机、测试仪和机械臂，所述上位机向所述测试仪传输测试数据，所述机械臂受所述测试仪的控制将集成电路放入或者取出测试仪，所述测试仪包括测试仪外壳、电源接口、通信接口、输入设备、输出设备、测试仪主控...
该专利属于成都市中州半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都市中州半导体科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。