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一种芯片的测试电路，包括：电源电压提供单元，适于获得核心电源电压；输入焊盘，适于输入基准电压；电压比较单元，适于获得所述核心电源电压和基准电压的电压值比较结果；输出焊盘，适于输出所述电压值比较结果。本发明技术方案提供的测试电路可以直接通过输...
该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

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