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本发明提出了一种在编程时对芯片进行测试的方法，包括：将芯片与烧写器相连；将第一写入值保存至芯片，第一写入值用于控制芯片的零点输出；对芯片进行第一检测以获得芯片的第一输出数据；向芯片施加磁场并将第二写入值保存至芯片，第二写入值用于控制芯片的额...
该专利属于比亚迪股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过比亚迪股份有限公司授权不得商用。

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