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文档序号:10054232
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半导体装置。本发明提供ESD耐量高的半导体装置。第一过孔(16)用于使焊盘(22)与ESD保护电路的NMOS晶体管的漏极电连接。在焊盘(22)下方,仅在矩形环状的中间层金属膜(17)的一边和与该一边相对的另一边设置有该第一过孔(16)。即,...
该专利属于精工电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过精工电子有限公司授权不得商用。
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