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一种测试FPGA的装置与方法制造方法及图纸
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文档序号:10043340
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本发明提供了一种测试FPGA的装置与方法。该测试FPGA的装置位于FPGA芯片内,包括:自测试控制器,用于按照预设时序生成地址生成信号和回读使能信号;地址生成器,用于在地址生成信号的驱动下,生成遍历被测试的FPGA配置阵列的地址,并使该地址...
该专利属于中国科学院电子学研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院电子学研究所授权不得商用。
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