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一种有机发光显示装置及其用于测试附接至面板上端的保护膜切割程序中发生的故障的测试方法。该有机发光显示装置包括第一基底，在第一基底上形成像素单元和测试器。像素单元包括设置在扫描线和数据线交叉部的多个像素，测试器包括联接至相应数据线以将测试信号...
该专利属于三星显示有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过三星显示有限公司授权不得商用。

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