有机发光显示装置及其测试方法制造方法及图纸

一种有机发光显示装置及其用于测试附接至面板上端的保护膜切割程序中发生的故障的测试方法。该有机发光显示装置包括第一基底，在第一基底上形成像素单元和测试器。像素单元包括设置在扫描线和数据线交叉部的多个像素，测试器包括联接至相应数据线以将测试信号提供至数据线的多个晶体管。晶体管被分为至少两组，使得一组的晶体管由第一测试控制线来开启/关闭，而另一组的晶体管由第二测试控制线来开启/关闭，其中，第一测试控制线经由第一基底的第一侧设置，第二测试控制线经由与第一基底的第一侧相对的第二侧设置。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种有机发光显示装置及其用于测试附接至面板上端的保护膜切割程序中发生的故障的测试方法。该有机发光显示装置包括第一基底，在第一基底上形成像素单元和测试器。像素单元包括设置在扫描线和数据线交叉部的多个像素，测试器包括联接至相应数据线以将测试信号提供至数据线的多个晶体管。晶体管被分为至少两组，使得一组的晶体管由第一测试控制线来开启/关闭，而另一组的晶体管由第二测试控制线来开启/关闭，其中，第一测试控制线经由第一基底的第一侧设置，第二测试控制线经由与第一基底的第一侧相对的第二侧设置。【专利说明】相关申请的引用本申请要求在2012年10月22日向韩国专利局提交的韩国专利申请10-2012-0117537的所有权益，该申请的全文通过引用并入本文。
本专利技术涉及，尤其涉及有机发光显示装置及其能够检测在附接至面板上端的保护膜的切割程序中发生的故障的测试方法。
技术介绍
近来，开发了不同类型的能够减轻阴极射线管的重量和体积(被认为是缺陷)的平板显示装置。平板显示装置包括但不限于液晶显示装置、场发光显示装置、等离子显示面板、有机发光显示装置。在这些平板显示装置中，有机发光显示装置利用通过电子和空穴复合而发光的有机发光二极管来显示图像。有机发光显示装置具有快响应速度和低能耗。利用自发光元件的有机发光显示装置不使用例如背光灯的单独光源，因此具有重量轻的优点。同时，其还适于实现柔性显示装置。作为有机发光显示装置的关键组成部分的有机材料在暴露于空气中时会与水、氧气等反应而被损坏。因此，在有机发光显示装置中，利用玻璃、薄膜等密封面板的上部的封装在有机发光显示装置是必不可少的。然而，为了实现柔`性有机发光显示装置，封装基底优选由柔性材料构成且为在上面形成像素的下基底。因此，近来通过利用薄膜来进行薄膜封装以制造柔性有机发光显示>J-U ρ?α装直。在触摸方法被广泛用作各种类型的显示装置的输入方法的当前形势下，通过在薄膜封装面板的上部附着保护膜，能够更有效地防止有机材料受到外部刺激。在这种情况下，保护膜的切割程序应被执行，使得面板的焊盘部或IC安装区域能够暴露，但是位于保护膜下方的元件、导线等即使保护膜的切割程序中也可能被损坏。因此，需要开发有机发光显示装置及其能够测试保护膜切割程序中发生的故障的测试方法。
技术实现思路
提供了，该方法能够测试附接至面板上端的保护膜的切割程序中发生的故障。根据本专利技术的一个方案，提供一种有机发光显不装置，可包括:第一基底，在第一基底上形成有像素单元和测试器，其中，像素单元包括多个设置在扫描线和数据线交叉部处的像素，测试器包括联接至相应数据线以将测试信号提供至数据线的多个晶体管；其中，晶体管被分为至少两组，使得一组的晶体管由第一测试控制线来开启/关闭，而另一组的晶体管由第二测试控制线来开启/关闭，其中，第一测试控制线经由第一基底的第一侧设置，第二测试控制线经由与第一基底的第一侧相对的第二侧设置。有机发光显示装置还可包括:封装基底，封装第一基底的包括至少像素单元的一个区域；以及保护膜，附接至封装基底的上部。第一基底、封装基底和保护膜可由柔性材料形成。在第一基底的一侧可设置有联接至外部驱动电路的焊盘部，封装基底和保护膜暴露第一基底的包括焊盘部的一侧多个像素可包括单位像素，每个单位像素具有多个子像素，单位像素可被分为第一像素组和第二像素组。多个晶体管中的、联接至第一像素组的像素的晶体管的栅电极联接至第一测试控制线，多个晶体管中的、联接至第二像素组的像素的晶体管的栅电极联接至第二测试控制线。第一像素组的单位像素可设置为奇数列像素，第二像素组的单位像素可设置为偶数列像素第一测试控制线可经由像素单元左侧的非像素区域联接至第一基底的焊盘部，第二测试控制线可经由像素单元右侧的非像素区域联接至第一基底的焊盘部每个晶体管可联接在多个测试信号线中的任意一个与数据线的任意一个之间。测试信号线可包括第一测试信号线、第二测试信号线以及第三测试信号线，第一测试信号线用于将红色测试信号提供至数据线中的第一组，第二测试信号线用于将绿色测试信号提供至数据线中的第二组，第三测试信号线用于将蓝色测试信号提供至数据线中的第三组。根据本专利技术的另一个方案，提供了一种通过将多个测试信号提供至联接至每个数据线的多个晶体管来检测有机发光显示装置的故障的方法，其中，晶体管被分为至少两组，通过分别将测试控制信号提供至经由有机发光显示装置的不同侧设置的不同测试控制线来开启每组晶体管。像素可被分为至少两组，可通过在不同时间开启至少两组晶体管来使得每组像素发光。如上所述，根据本专利技术，有机发光显示装置包括测试器，测试器具有联接至每个数据线以将测试信号提供至数据线的多个晶体管。晶体管被分为至少两组，通过经由面板不同侧设置的第一测试控制线或第二测试控制线来开启/关闭每组晶体管。通过在保护膜切割程序之后分别将第一测试控制信号和第二测试控制信号提供至第一测试控制线和第二测试控制线来驱动晶体管，从而可检测保护膜切割程序中发生的故障。【专利附图】【附图说明】通过参照与附图结合的【具体实施方式】，本专利技术更完整的描述及其优点将显而易见，其中，附图中相似的附图标记表示相同或相似的部件。图1是示意性地示出根据本专利技术实施方式的有机发光显示装置的面板的平面图；图2是示出图1的测试器的主要部分的放大视图以及利用该测试器的测试方法；以及图3是示意性地示出在保护薄膜的切割程序中发生故障的示例的侧视图。【具体实施方式】以下参照附图描述特定的示例性的实施方式。本文中，当第一元件被描述为与第二元件联接时，该第一元件可直接与该第二元件联接，或者可经由第三元件间接地与第二元件联接。而且，为清楚起见，对完整理解而言不是必要的某些元件被省略。而且，在全文中相同的附图标记通常指代相同的元件。图1是示意性地示出根据本专利技术实施方式的有机发光显示装置的面板的平面图。图2是示出图1的测试器的主要部分的放大视图以及利用该测试器的测试方法。参照图1，有机发光装置的面板包括形成有像素单元120的第一基底(例如下基底)110、扫描驱动器140、测试器160、焊盘部(pad portion) 145、IC安装区域150和被设置为第一基底110的一个区域重叠的封装基底200、以及保护膜300。第一基底110是上面至少形成有像素单元120的基底，并且可以由诸如玻璃和薄膜的不同材料形成。然而，在应用于柔性显示装置的情况下，第一基底110可由诸如柔性膜的柔性材料形成。像素单元120包括多个位于扫描线SI至Sn与数据线Dl至D3m的交叉部处的像素130。在此，多个像素130中的每个可具有多个子像素(例如，R、G、B子像素)。当扫描驱动器140通过扫描线SI至Sn提供扫描信号时，根据由数据线Dl至D3m提供的测试信号或数据信号，像素发光。扫描驱动器140包括移位寄存器(未示出)，移位寄存器联接至扫描线SI至Sn。扫描驱动器140将扫描信号顺序地提供至扫描线SI至Sn。测试器160包括多个晶体管Ml至M3m，多个晶体管Ml至M3m联接在数据线Dl至D3m中的每个的一侧与多个测试信号线161、162和163中的任何一个之间。当测试控制信号被提供至控制电极(即其栅电极)时，晶体管Ml至M3m中的每个被开启，以将来本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种有机发光显示装置，包括：第一基底，所述第一基底上形成有像素单元和测试器，其中，所述像素单元包括设置在扫描线和数据线交叉部处的多个像素，所述测试器包括联接至相应数据线以将测试信号提供至所述数据线的多个晶体管；其中，所述晶体管被分为至少两组，使得一组的晶体管由第一测试控制线来开启/关闭，而另一组的晶体管由第二测试控制线来开启/关闭，其中，所述第一测试控制线经由所述第一基底的第一侧设置，所述第二测试控制线经由与所述第一基底的第一侧相对的第二侧设置。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：权泰勳，贾智铉，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR