实现互调测试中残余互调降低的互调测试系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及一种实现互调测试中残余互调降低的互调测试系统及方法，其中包括合路器；双工滤波器，用以将合路信号输出至被测件或校准件并接收被测件或校准件产生的互调信号；接收机，用以接收双工滤波器中产生的互调信号与被测件或校准件产生的互调信号的矢量叠加信号；数个耦合器；非线性电路，用以接收耦合器耦合后的待测试信号产生内部参考互调信号并发送至接收机。采用该种结构的实现互调测试中残余互调降低的互调测试系统及方法，使得整个测试系统的残余互调达到更低的水平，降低双工滤波器的互调特性对测试结果的影响，双工滤波器的互调值即使比负载高15～20dB也可以正常测试被测件的互调值，具有更广泛的应用范围。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信
，尤其涉及互调测试领域，具体是指一种。
技术介绍
传统的互调测试系统如图1所示，两路功连续波信号合路后，接入双工滤波器发射端，经公共端输出至被测件，被测件产品产生互调信号反射至双工器接收通道，由接收机测量互调信号的幅度大小。在这个测量系统中，接收机测量到的互调信号是双工滤波器产生的互调与被测件产生的互调的矢量叠加结果。需要自身互调特性极好的双工滤波器才能对被测件的互调有较准确的测量，一般要求双工器的自身互调比被测件的互调值小15dB以上。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服了上述现有技术的缺点，提供了一种能够实现降低残余互调、降低双工滤波器的互调特性对测试结果的影响、可以适用于不同阶数的互调测试、具有更广泛应用范围的。为了实现上述目的，本专利技术的具有如下构成:该实现互调测试中残余互调降低的互调测试系统，其主要特点是，所述的系统包括:合路器，用以将待测试互调信号合路后输出合路信号；双工滤波器，用以通过合路信号输出端将所述的合路信号输出至被测件或校准件并接收所述的被测件或校准件产生的互调信号；接收机，用以接收所述的双工滤波器中产生的互调信号与所述的被测件或校准件产生的互调信号的矢量叠加信号；数个耦合器，用以将待测试信号耦合后输出；非线性电路，用以接收所述的耦合器耦合后的待测试信号产生内部参考互调信号并发送至所述的接收机。较佳地，所述的耦合器为一个，所述的耦合器设置于所述的合路器和双工滤波器之间或所述的耦合器与所述的双工滤波器的合路信号输出端相连接。较佳地，所述的耦合器与待测试互调信号的路数相同且所述的耦合器与各路待测试互调信号一一对应，各个所述的耦合器设置于所对应的一路待测试互调信号与所述的合路器之间。较佳地，所述的非线性电路为混频器或二极管。较佳地，所述的校准件为互调值低于系统预设限值的负载。本专利技术还涉及一种基于所述的系统实现互调测试中残余互调降低的互调测试方法，其主要特点是，所述的方法包括以下步骤:(I)所述的接收机接收所述的非线性电路输出的内部参考互调信号并测量该信号的幅值和相位值；(2)断开所述的被测件与所述的双工滤波器之间的通信并建立所述的校准件与所述的双工滤波器之间的通信；(3)将待测试互调信号输入所述的合路器并记录当前接收机从所述的双工滤波器接收到的校准信号；(4)断开所述的校准件与所述的双工滤波器之间的通信并建立所述的被测件与所述的双工滤波器之间的通信；(5)将待测试互调信号输入所述的合路器并记录当前接收机从所述的双工滤波器接收到的待校准互调信号；(6)根据所述的内部参考互调信号、校准信号和待校准信号计算被测件的互调信号值。较佳地，所述的根据所述的内部参考互调信号、校准信号和待校准信号计算被测件的互调信号值，包括以下步骤:(61)根据所述的内部参考互调信号和待校准信号的相位确定外部实测互调信号的相位值；(62)将待校准信号减去校准信号得到被测件的互调信号值。采用了该专利技术中的，能够实现降低残余互调，低互调负载的比较容易实现，使得整个测试系统的残余互调达到更低的水平，降低双工滤波器的互调特性对测试结果的影响，双工滤波器的互调值即使比负载高15?20dB也可以正常测试被测件的互调值，既可以用于反射互调的测试也可以用于传输互调的测试，可以适用于不同阶数的互调测试，具有更广泛的应用范围。【附图说明】图1为现有技术中互调测试系统的结构示意图。图2为本专利技术的实现互调测试中残余互调降低的互调测试系统的结构示意图。【具体实施方式】为了能够更清楚地描述本专利技术的
技术实现思路
，下面结合具体实施例来进行进一步的描述。本文介绍的方法是增加一个测量参考测试通道，参考通道通过耦合部分载波信号，加载到一非线性电路中，产生较大的互调信号，该互调信号与待测试互调信号由相同信号源产生，它们是同频的相干信号，可以作为互调信号相位测试的参考信号，通过双通道矢量接收机不仅测量被测互调信号的幅度值，也测量互调信号相对参考信号的相位值，这样可以得到互调信号的矢量信息。如图2所示，本专利技术的测试系统包括:合路器，用以将待测试互调信号合路后输出合路信号；双工滤波器，用以将经所述的合路信号输出至被测件或校准件并接收所述的被测件或校准件产生的互调信号；接收机，用以接收所述的双工滤波器中产生的互调信号与所述的被测件或校准件产生的互调信号的矢量叠加信号；数个耦合器，用以将待测试信号耦合后输出；非线性电路，用以接收所述的耦合器耦合后的待测试信号产生内部参考互调信号并发送至所述的接收机。在图2的实施例中，该测试系统包含一个互调参考通道，参考通道的信号源来自两个测试载波信号，可以是分开耦合，即需要设置与待测试互调信号路数相同数目的耦合器，也可以是合路后一起耦合的，可以是经过滤波器之前耦合，也可以在滤波器之后耦合。通过耦合的载波信号在非线性电路上产生互调信号作为内部参考，通过测量外部互调信号与内部参考信号的相位差确定外部互调信号的相位。该非线性电路可以是混频器、二极管或其他的可以产生较大互调信号的电路。在测试被测件之前，用低互调的负载作为校准件代替被测件，先对测试系统做一次校准测试。假设负载的互调值为零，连接低互调的负载时，测得测试系统的内部自身互调幅度值与相对参考信号的相位值并记录，记录结果作为校准值。测试被测件时将测得的互调值与记录的校准值矢量相减，就得到被测件的实际互调值。由于双工器自身的互调在测试过程中可以被识别并去除，在改进的测试系统中，双工器的互调特性对最终的测试结果影响很小。测试前，使用低互调负载进行系统校准，测试时将测量结果与校准值矢量相减得到被测件的互调值。即本专利技术中实现互调测试中残余互调降低的互调测试方法包括以下步骤:(I)所述的接收机接收所述的非线性电路输出的内部参考互调信号并测量该信号的幅值和相位值；(2)断开所述的被测件与所述的双工滤波器之间的通信并建立所述的校准件与所述的双工滤波器之间的通信；(3)将待测试互调信号输入所述的合路器并记录当前接收机从所述的双工滤波器接收到的校准信号；(4)断开所述的校准件与所述的双工滤波器之间的通信并建立所述的被测件与所述的双工滤波器之间的通信；(5)将待测试互调信号输入所述的合路器并记录当前接收机从所述的双工滤波器接收到的待校准互调信号；(6)根据所述的内部参考互调信号、校准信号和待校准信号计算被测件的互调信号值。采用了该专利技术中的，能够实现降低残余互调，低互调负载的比较容易实现，使得整个测试系统的残余互调达到更低的水平，降低双工滤波器的互调特性对测试结果的影响，双工滤波器的互调值即使比负载高15?20dB也可以正常测试被测件的互调值，既可以用于反射互调的测试也可以用于传输互调的测试，可以适用于不同阶数的互调测试，具有更广泛的应用范围。在此说明书中，本专利技术已参照其特定的实施例作了描述。但是，很显然仍可以作出各种修改和变换而不背离本专利技术的精神和范围。因此，说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种实现互调测试中残余互调降低的互调测试系统，所述的系统包括：合路器，用以将待测试互调信号合路后输出合路信号；双工滤波器，用以通过合路信号输出端将所述的合路信号输出至被测件或校准件并接收所述的被测件或校准件产生的互调信号；接收机，用以接收所述的双工滤波器中产生的互调信号与所述的被测件或校准件产生的互调信号的矢量叠加信号；其特征在于，所述的系统还包括：数个耦合器，用以将待测试信号耦合后输出；非线性电路，用以接收所述的耦合器耦合后的待测试信号产生内部参考互调信号并发送至所述的接收机。

【技术特征摘要】
1.一种实现互调测试中残余互调降低的互调测试系统，所述的系统包括: 合路器，用以将待测试互调信号合路后输出合路信号； 双工滤波器，用以通过合路信号输出端将所述的合路信号输出至被测件或校准件并接收所述的被测件或校准件产生的互调信号； 接收机，用以接收所述的双工滤波器中产生的互调信号与所述的被测件或校准件产生的互调信号的矢量叠加信号； 其特征在于，所述的系统还包括: 数个耦合器，用以将待测试信号耦合后输出； 非线性电路，用以接收所述的耦合器耦合后的待测试信号产生内部参考互调信号并发送至所述的接收机。2.根据权利要求1所述的实现互调测试中残余互调降低的互调测试系统，其特征在于，所述的耦合器为一个，所述的耦合器设置于所述的合路器和双工滤波器之间或所述的耦合器与所述的双工滤波器的合路信号输出端相连接。3.根据权利要求1所述的实现互调测试中残余互调降低的互调测试系统，其特征在于，所述的耦合器与待测试互调信号的路数相同且所述的耦合器与各路待测试互调信号一一对应，各个所述的耦合器设置于所对应的一路待测试互调信号与所述的合路器之间。4.根据权利要求1所述的实现互调测试中残余互调降低的互调测试系统，其特征在于，所述的非线性电路为混频器或二极管。5.根据权利要求1所述的实现互调测试中残...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴浩发，
申请(专利权)人：上海创远仪器技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31