【技术实现步骤摘要】
基于可调电流源的电阻测量方法及装置
本专利技术涉及电子
，尤其涉及一种基于可调电流源的电阻测量方法及装置。
技术介绍
电阻是最基本的一种电学参数，实现电阻的测量对电子电路调试，工业生产，食品安全，医疗卫生等各行业都有着重要的意义。电阻的测量方法多种多样，有面向高精度测量的，有面向高速测量的，有面向高压环境的，有面向在线测量的，有模拟测量方法，有数字测量方法，在大多数数字多用表中采用的测量装置如图1所示。具体是在同一量程内在待测电阻上施加一个固定电流，该电流在待测电阻上形成一个电压，该电压信号经过直流调理电路将其转换到ADC的输入范围，再经过AD转换，将采集到的数字信号传输到MCU中，通过预先存储的校准数据对电阻进行测量，该方法硬件结构较复杂，因此，如何提供一种硬件结构简单且稳定有效的电阻测量方法成为现在亟待需要解决的问题。
技术实现思路
鉴于上述的分析，本专利技术旨在提供一种基于可调电流源的电阻测量方法及装置，用以解决现有技术中电阻测量方法与装置结构复杂的问题。本专利技术主要是通过以下技术方案实现的:一种基于可调电流源的电阻测量方法，该方法包括:...
【技术保护点】
一种基于可调电流源的电阻测量方法，其特征在于，包括：依次连接的电流源、比较器和MCU；将标校电阻的一端与地连接，另一端分别与所述比较器和所述电流源连接，由所述MCU控制所述电流源的电流逐渐变化，当加在所述标校电阻上的电压超过所述比较器预设的参考电压值后，所述比较器输出反相，此时MCU记录下输出给所述电流源的电流；依次测量多个标校电阻对应的电流，并将各个标校电阻及其对应的电流拟合成电流电阻曲线；测量待测电阻的电阻时，将待测电阻的一端与地连接，另一端分别与所述比较器和所述电流源连接，通过所述MCU控制电流源输出的电流逐渐变化，当加在所述待测电阻上的电压超过比较器预设的参考电压值...
【技术特征摘要】
1.一种基于可调电流源的电阻测量方法，其特征在于，包括:依次连接的电流源、比较器和MCU ； 将标校电阻的一端与地连接，另一端分别与所述比较器和所述电流源连接，由所述MCU控制所述电流源的电流逐渐变化，当加在所述标校电阻上的电压超过所述比较器预设的参考电压值后，所述比较器输出反相，此时MCU记录下输出给所述电流源的电流； 依次测量多个标校电阻对应的电流，并将各个标校电阻及其对应的电流拟合成电流电阻曲线； 测量待测电阻的电阻时，将待测电阻的一端与地连接，另一端分别与所述比较器和所述电流源连接，通过所述MCU控制电流源输出的电流逐渐变化，当加在所述待测电阻上的电压超过比较器预设的参考电压值后，所述比较器输出反相，此时MCU记录下输出给电流源的电流值，并根据该电流值以及所述电流电阻曲线计算出该待测电阻的电阻值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，由所述MCU控制所述电流源的电流逐渐变化，当加在所述标校电阻上的电压超过所述比较器预设的参考电压值后，所述比较器输出反相，此时MCU记录下输出给所述电流源的电流的步骤具体包括: 由所述MCU控制电流源的电流输出从小到大逐渐变化，当加在所述标校电阻上的电压超过所述比较器预设的参考电压值后，所述比较器输出反相，此时MCU记录下输出给电流源的控制电流。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，通过所述MCU控制电流源输...
【专利技术属性】
技术研发人员：高伟强，胡志臣，刘家玮，储艳丽，李浩璧，
申请(专利权)人：北京航天测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。