光源设备、光源设备的控制方法、以及显示设备技术

本发明专利技术涉及一种光源设备、光源设备的控制方法、以及显示设备。根据本发明专利技术的光源设备包括：光源基板，其上配置有一个或多个发光单元；光学片材，用于反射来自所述发光单元的光；以及检测单元，用于检测所述光学片材所反射的反射光，其中，所述检测单元被配置在一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处。

【技术实现步骤摘要】
光源设备、光源设备的控制方法、以及显示设备
本专利技术涉及一种光源设备、该光源设备的控制方法、以及显示设备。
技术介绍
一些彩色图像显示设备包括具有彩色滤波器的彩色液晶面板、以及向该彩色液晶面板的背面照射白色光的光源设备(背光设备)。传统上，作为光源设备的光源，主要使用诸如冷阴极荧光灯(CCFL)等的荧光灯。然而，近来，发光二极管(LED)由于在电力消耗、产品寿命、颜色再现性和环境影响方面优良而已开始用于光源设备的光源。使用LED作为光源的光源设备(LED背光设备)通常具有多个LED。日本特开2001-142409公开了包括各自具有一个或多个LED的多个发光单元的LED背光设备。日本特开2001-142409还公开了针对各发光单元来控制亮度。通过使向彩色图像显示设备的画面中的显示暗图像的区域照射光的发光单元的发光亮度下降，电力消耗减少并且图像的对比度提高。将与图像的特性相对应的针对各发光单元的这种亮度控制称为“局部调光控制”。光源设备的一个问题是从发光单元发出的光的发光亮度的变化。例如，发光亮度因依赖于温度变化的光源的发光特性的变化、或者因光源的老化而改变。在具有多个发光单元本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光源设备，包括：光源基板，其上配置有一个或多个发光单元；光学片材，用于反射来自所述发光单元的光；以及检测单元，用于检测所述光学片材反射后的反射光，其中，所述检测单元配置在一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处。

【技术特征摘要】
2012.08.24 JP 2012-1855381.一种光源设备，包括: 光源基板，其上配置有一个或多个发光单元； 光学片材，用于反射来自所述发光单元的光；以及 检测单元，用于检测所述光学片材反射后的反射光， 其中，所述检测单元配置在一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处。2.根据权利要求1所述的光源设备，其中， 所述预定值近似为3%。3.根据权利要求1或2所述的光源设备，其中， 来自所述发光单元的光具有强度分布大致为朗伯分布的指向性，以及将配置在一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处的检测单元设置在相对于该发光单元的发光中心远离了该发光单元和所述光学片材之间的距离的2.75~5.37倍的距离的位置处。4.根据权利要求1或2所述的光源设备，其中， 来自所述发光单元的光具有强度分布大致为朗伯分布的指向性，以及将配置在一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处的检测单元设置在相对于该发光单元的发光中心远离了该发光单元和所述光学片材之间的距离的近似4倍的距离的位置处。5.根据权利要求1或2所述的光源设备，其中， 将配置在一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处的检测单元设置成与所述光学片材的表面上的、由于所述光学片材的挠曲所引起的所述光学片材的该表面上的亮度的变化量大致为零的位置相对。6.根据权利要求1或2所述的光源设备，其中， 所述光源基板具有多个所述发光单元， 所述光源设备还包括: 多个所述检测单元；以及 调整单元，用于基于多个所述检测单元中的配置在一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处的检测单元的检测值，来调整该发光单元的发光亮度。7.根据权利要求6所述的光源设备，其中， 所述调整单元参考多个所述发光单元和多个所述检测单元之间的对应关系预先确定的对应表，并且选择多个所述检测单元中的配置在一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检 测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处的检测单元。8.根据权利要求6所述的光源设备，其中， 多个所述检测单元中的配置在一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处的检测单元并非是离该发光单元最近的检测单元。9.根据权利要求6所述的光源设备，其中， 多个所述发光单元发出指向性相互不同的各种光，以及发出指向性较高的光的发光单元的发光中心和调整发出指向性较高的光的发光单元的发光亮度所使用的检测单元之间的距离短于发出指向性较低的光的发光单元的发光中心和调整发出指向性较低的光的发光单元的发光亮度所使用的检测单元之间的距离。10.根据权利要求6所述的光源设备，其中， 离所述光源基板的边缘较近的发光单元的发光中心和调整离所述光源基板的边缘较近的发光单元的发光亮度所使用的检测单元之间的距离长于离所述光源基板的边缘较远的发光单元的发光中心和调整离所述光源基板的边缘较远的发光单元的发光亮度所使用的检测单元之间的距离。11.根据权利要求6所述的光源设备，其中， 多个所述发光单元包括第二发光单元和第三发光单元， 将调整所述第二发光单元的发光亮度所使用的检测单元配置在离所述第二发光单元比与所述光学片材的表面上的、仅所述第二发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的亮度的变化量大致为零的位置相对的位置更远的位置处， 将调整所述第三发光单元的发光亮度所使用的检测单元配置在离所述第三发光单元比与所述光学片材的表面上的、仅所述第三发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所弓丨起的亮度的变化量大致为零的位置相对的位置更近的位置处，以及 所述第二发光单元和所述第三发光单元配置在分散的位置处，以使得由于亮度分布的变化所引起的调整后的发光亮度的误差被抵消。12.根据权利要求6所述的光源设备，其中， 多个所述发光单元包括第一发光单元、第二发光单元和第三发光单元， 将调整所述第一发光单元的发光亮度所使用的检测单元配置成与所述光学片材的表面上、仅所述第一发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的亮度的变化量大致为零的位置相对， 将调整所述第二发光单元的发光亮度所使用的检测单元配置在离所述第二发光单元比与所述光学片材的表面上的、仅所述第二发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的亮度的变化量大致为零的位置相对的位置更远的位置处， 将调整所述第三发光单元的发光亮度所使用的检测单元配置在离所述第三发光单元比与所述光学片材的表面上的、仅所述第三发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所弓丨起的亮度的变化量大致为零的位置相对的位置更近的位置处，以及 所述第一发光单元、所述第二发光单元和所述第三发光单元配置在分散的位置处，以使得由于亮度分布的变化所引起的调整后的发光亮度的误差被抵消。13.根据权利要求11所述的光源设备，其中， 所述第二发光单元和所述第三发光单元彼此相邻。14.根据权利要求1或2所述的光源设备，其中， 在所述发光单元中配置有多个光源。15.—种显不设备,包括: 根据权利要求1或2所述的光源设备；以及 液晶面板，用于从所述液晶面板的背面侧接收来自所述光源设备的光。16.—种光源设备,包括:光源基板，其上配置有一个或多个发光单元； 光学片材，用于反射来自所述发光单元的光；以及 检测单元，用于检测所述光学片材反射后的反射光， 其中，所述检测单元被配置成与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：栗田昌尚，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
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