一种光斑大小的测量装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术属于光电测量技术领域，公开了一种光斑大小的测量装置和方法，利用螺旋线与任意同心圆交点唯一的规律，配合光敏材料形成光斑大小测量装置；所述光斑大小的测量装置包括：双螺旋电极；所述双螺旋包括：呈螺旋线圈状的独立正电极和负电极；所述双螺旋电极采用光敏电导材料；所述双螺旋电极的正电极和负电极相间铺设，呈中心对称；所述螺旋电极的尾端连接电阻测量装置。本发明专利技术通过两个光敏材料构成的螺旋电极在待测光斑的照射下阻值变化，来表征待测光斑的大小，操作简单高效。

【技术实现步骤摘要】
一种光斑大λ!、的测量装置和方法
本专利技术属于光电测量
，公开了。
技术介绍
光学系统对光斑的尺寸大小有严格的要求，比如在跟踪方面，需要严格控制光斑大小，才能高效准确提取出目标的位置信息。光斑测量也是光电测量
中重要的项目，通常是采用即成高精度仪器进行测量，虽然能够准确地获得光斑的大小，耗时费力；其设备投入成本相对较高。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种高精度，低成本，操作简便的光大小测量装置和方法。为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种光斑大小的测量装置，利用螺旋线与任意同心圆交点唯一的规律，配合光敏电导材料形成光斑大小测量装置；所述光斑大小的测量装置包括:双螺旋电极；所述双螺旋包括:呈螺旋线圈状的独立正电极和负电极；所述双螺旋电极采用光敏电导材料；所述双螺旋电极的正电极和负电极相间铺设，呈中心对称；所述螺旋电极的尾端连接电阻测量装置。进一步地，所述呈螺旋线圈状的正电极和负电极的相邻螺旋线之间间距相等。一种光斑大小的测量方法，运用上述光斑大小测量装置执行下述步骤:将待测光斑投射到所述双螺旋电极上，待测光斑的圆心与所述双螺旋电极的中心重合；通过双螺旋电极的尾端连接电阻测量装置测量此时双螺旋电极的阻值Rab ；通过公式

【技术保护点】
一种光斑大小的测量装置，利用螺旋线与任意同心圆交点唯一的规律，配合光敏材料形成光斑大小测量装置；其特征在于，所述光斑大小的测量装置包括：双螺旋电极；所述双螺旋包括：呈螺旋线圈状的独立正电极和负电极；所述双螺旋电极采用光敏电导材料；所述双螺旋电极的正电极和负电极相间铺设，呈中心对称；所述螺旋电极的尾端连接电阻测量装置。

【技术特征摘要】
1.一种光斑大小的测量装置，利用螺旋线与任意同心圆交点唯一的规律，配合光敏材料形成光斑大小测量装置；其特征在于，所述光斑大小的测量装置包括:双螺旋电极；所述双螺旋包括:呈螺旋线圈状的独立正电极和负电极；所述双螺旋电极采用光敏电导材料；所述双螺旋电极的正电极和负电极相间铺设，呈中心对称；所述螺旋电极的尾端连接电阻测量装置。2.如权利要求1所述的光斑大小的测量装置，其特征在于:所述呈螺旋线圈状的正电极和负电极的相邻螺旋线之间间距相等。3.一种光斑大小的测量方法，其特征在于，运用如权利要求1所述的光斑大小测量装置执行下述步骤: 将待测光斑投射到所述双螺旋电极上，待测光...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵彦立，王琦，文柯，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：发明
国别省市：