光模块制造技术

本发明专利技术的目的在于，提供在测量传送路径中的信号强度的光模块中，不会使制造工序增加，并且不会使成本变高，将导光到光模块的信号光聚光到受光元件，并且不会使从光模块返回的反射光再入射到传送路径中的技术。本发明专利技术提供一种光模块，其特征在于，具备：入射光光纤（1），对入射光进行波导；折射率分布型透镜（2），具有与入射光光纤（1）不同的光轴（21），具有相对入射光的波长大于1/4周期长度且小于1/2周期长度的周期长度，在与和光轴（21）垂直的面形成有限的角度的面中与入射光光纤（1）接合，具有与光轴（21）大致垂直的面而作为出射光的出射面；以及受光元件（3），配置于出射光的聚光位置，测量出射光的强度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光模块
本专利技术涉及在测量传送路径中的信号强度的光模块中，将导光到光模块内的折射率分布型透镜的信号光聚光到受光元件，并且不使从光模块内的折射率分布型透镜返回的反射光再入射到传送路径中的技术。
技术介绍
有通过测量传送路径中的信号强度，监视传送路径中的通信状态的光模块(例如，参照专利文献I)。专利文献I公开的线路监视器由入射光光纤、出射光光纤、柱透镜、包括透光部的反射膜以及受光检测元件构成。从传送路径导光的光信号经由入射光光纤以及柱透镜到达反射膜。通过受光检测元件检测到达反射膜中的透光部的光信号。将到达反射膜中的反射部的光信号经由柱透镜以及出射光光纤，输出到传送路径。专利文献1:日本特开平2-141709号公报
技术实现思路
这样，在专利文献I中，通过设置出射光光纤以及反射膜，用受光检测元件检测从传送路径进行了导光的光信号中的一部分，将剩余输出到传送路径。但是，应用专利文献1，可以认为不设置出射光光纤以及反射膜，而全部由受光检测元件检测到从传送路径进行了导光的光信号。图1不出以往技术的光模块的结构。以往技术的光模块由入射光光纤1、折射率分布型透镜2以及受光元件3构成。入射光光纤I对入射光进行波导。折射率分布型透镜2与入射光光纤I的出射端接合，具有与入射光光纤I不同的光轴21，针对入射光的波长具有1/4周期长度，具有与光轴21大致垂直的两端面。受光元件3配置于来自折射率分布型透镜2的出射光的光路位置，测量来自折射率分布型透镜2的出射光的强度。说明以往技术的光模块中的光信号的光路。来自传送路径的光信号在入射光光纤I中，在光路A上被导光，在折射率分布型透镜2中，到达偏离了光轴21的点22。折射率分布型透镜2的周期长度相对入射光的波长是1/4周期长度，所以到达点22的光信号在折射率分布型透镜2中，在光路B上被导光，到达处于光轴21上的点23。到达点23的光信号在光路C上被导光，在受光元件3中，到达点31。此处，光信号的光路具有某种程度的扩散。到达点22的光信号在折射率分布型透镜2中，在从光路B偏离了扩散的量的光路B-1、B-2中被导光，分别到达从点23偏离了扩散的量的点25、26。折射率分布型透镜2的周期长度相对入射光的波长是1/4周期长度，所以到达点25、26的光信号分别在与光路C平行的光路C-l、C-2中被导光，在受光元件3中，分别到达从点31偏离了扩散的量的点32、33。因此，在以往技术的光模块中，信号光难以聚光到受光元件3。然后，到达点23、25、26的光信号中的一部分朝向受光元件3透射，剩余朝向入射光光纤I反射。折射率分布型透镜2的周期长度被相对入射光的波长是1/4周期长度，所以在点23、25、26反射的光信号在折射率分布型透镜2中，分别在光路D、D_l、D-2中被导光，而聚光到点24。此处，点22、24关于光轴21处于对称的位置。在点24反射的光信号在折射率分布型透镜2中，在光路D、D-1、D-2中被导光，分别到达点23、25、26。在点23、25、26反射的光信号在折射率分布型透镜2中分别在光路Β、Β-1、Β-2中被导光，聚光到点22。因此，在以往技术的光模块中，光信号在折射率分布型透镜2内多重反射，所以易于再入射到入射光光纤I中。此处，以不使光信号在点22、24、点23、25、26反射而再入射到入射光光纤I的方式，考虑在折射率分布型透镜2的点22、24侧、点23、25、26侧的端面中，并非大致直角研磨而实施倾斜角度研磨，或者相对大致直角研磨面设置反射防止膜。但是，在实施倾斜角度研磨或者设置反射防止膜时，使制造工序增加成本增加。因此，为了解决所述课题，本专利技术提供一种在测量传送路径中的信号强度的光模块中，不会使制造工序增加，并且不使成本变高，将导光到折射率分布型透镜的信号光聚光到受光元件，并且不会使从折射率分布型透镜返回的反射光再入射到传送路径中的技术。为了达成上述目的，使折射率分布型透镜的光轴与入射光光纤的光轴不同，使折射率分布型透镜的周期长度相对入射光的波长大于1/4周期长度且小于1/2周期长度，在折射率分布型透镜的两端面中的入射端面中实施倾斜角度研磨，另一方面，在出射端面中实施大致直角研磨。具体而言,本专利技术提供一种光模块,其特征在于,具备:入射光光纤，对入射光进行波导；以及折射率分布型透镜，具有与所述入射光光纤不同的光轴，具有相对所述入射光的波长大于1/4周期长度且小于1/2周期长度的周期长度，在和所述光轴垂直的面形成有限的角度的面中与所述入射光光纤接合，具有与所述光轴大致垂直的面而作为出射光的出射面。另外，本专利技术提供一种光模块，其特征在于，还具备:受光元件，配置于所述出射光的聚光位置，测量所述出射光的强度；以及受光元件密封窗材料，配置于所述折射率分布型透镜以及所述受光元件之间，在与所述光轴大致垂直的面中与所述折射率分布型透镜接入口 ο根据该结构，在折射率分布型透镜的受光元件侧的一端中，光信号的光路的扩散向朝向受光元件的方向聚光。另外，在折射率分布型透镜的入射光光纤侧的一端中，光信号的光路的扩散与以往技术不同而不聚光。另外，为了防止光信号的向入射光光纤的反射，优选在折射率分布型透镜的入射光光纤侧的一端中，实施倾斜角度研磨，但在折射率分布型透镜的受光元件侧的一端中，调节了折射率分布型透镜的周期长度，从而无需实施倾斜角度研磨，而实施大致直角研磨就足够。进而，在折射率分布型透镜的受光元件侧的一端中，实施大致直角研磨的情况下，相比于实施倾斜角度研磨的情况，还能够预料在受光元件的受光面中，使聚光效率提高的效果O因此，不会使制造工序增加，并且不会使成本变高，将导光到折射率分布型透镜的信号光聚光到受光元件，并且不会使从折射率分布型透镜返回的反射光再入射到传送路径中。本专利技术能够提供在测量传送路径中的信号强度的光模块中，不会使制造工序增力口，并且不会使成本变高，将导光到折射率分布型透镜的信号光聚光到受光元件，并且不会使从折射率分布型透镜返回的反射光再入射到传送路径中的技术。【附图说明】图1是示出以往技术的光模块的结构的图。图2是示出本专利技术的光模块的结构的图。图3是示出本专利技术的阵列型光模块的结构的图。图4是示出本专利技术的阵列型光模块的矢向X-X剖面的图。(符号说明)1:入射光光纤；2:折射率分布型透镜；3:受光兀件；M:阵列型光模块；1A:入射光光纤阵列；2A:折射率分布型透镜阵列；3P:受光兀件密封窗材料封装；4P:受光兀件封装。【具体实施方式】参照附图，说明本专利技术的实施方式。以下说明的实施方式是本专利技术的实施例，本专利技术不限于以下的实施方式。另外，在本说明书以及附图中符号相同的构成要素相互相同。(光模块的结构)图2示出本专利技术的光模块的结构。本专利技术的光模块具备入射光光纤1、折射率分布型透镜2以及受光元件3。入射光光纤I对入射光进行波导。折射率分布型透镜2与入射光光纤I的出射端接合，具有与入射光光纤I不同的光轴21，具有相对入射光的波长大于1/4周期长度且小于1/2周期长度的周期长度。折射率分布型透镜2在与和光轴21垂直的面形成有限的角度的面中与入射光光纤I接合，具有与光轴21大致垂直的面而作为出射光的出射面。受光元件3配置于来自折射率分布型透镜2的出射光的聚光位置，测量来自折射率分布型透镜2的出射本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光模块，其特征在于包括：入射光光纤，对入射光进行波导；以及折射率分布型透镜，具有与所述入射光光纤不同的光轴，具有相对所述入射光的波长大于1/4周期长度且小于1/2周期长度的周期长度，在和所述光轴垂直的面形成有限的角度的面中与所述入射光光纤接合，具有与所述光轴大致垂直的面而作为出射光的出射面。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.07.15 JP 2011-1570241.一种光模块，其特征在于包括: 入射光光纤，对入射光进行波导；以及 折射率分布型透镜，具有与所述入射光光纤不同的光轴，具有相对所述入射光的波长大于1/4周期长度且小于1/2周期长度的周期长度，在和所述光轴垂直的面形成有...

【专利技术属性】
技术研发人员：山下悠斗，荻野悦男，佐佐木惠逸，
申请(专利权)人：北日本电线株式会社，
类型：
国别省市：