一种聚合物膜材透热性测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种聚合物膜材透热性测试系统，包括温度控制加热模块、温度测量模块以及信息中央处理模块；所述温度控制加热模块包括温控加热器，温度测量模块包括一个以上的K型温度传感器，信息中央处理模块包括Agilent34970A数据采集器以及带有组态软件的上位机；所述K型温度传感器与温控加热器相对设置；上位机对Agilent34970A数据采集器反馈的K型温度传感器所测量到的温控加热器的温度信号进行数据处理。本实用新型专利技术不仅能够对聚合物进行透热性测试，而且其价格低廉、使用方便。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种聚合物膜材透热性测试系统，包括温度控制加热模块、温度测量模块以及信息中央处理模块；所述温度控制加热模块包括温控加热器，温度测量模块包括一个以上的K型温度传感器，信息中央处理模块包括Agilent34970A数据采集器以及带有组态软件的上位机；所述K型温度传感器与温控加热器相对设置；上位机对Agilent34970A数据采集器反馈的K型温度传感器所测量到的温控加热器的温度信号进行数据处理。本技术不仅能够对聚合物进行透热性测试，而且其价格低廉、使用方便。【专利说明】一种聚合物膜材透热性测试系统
本技术涉及一种聚合物膜材的透热性测试系统，属于膜材料检测
。
技术介绍
在竞争日益激烈的光伏系能源行业中，我们对光伏太阳能电池组件(以下简称组件)的各个参数都要进行改善。对于在强烈阳光下的组件，我们不仅要关注组件的发电量、转换率等参数，而且要注意阳光下的组件温度。因为组件的温度过高不仅会影响组件的发电量、CTM，而且还会影响组建的寿命。为了保证组件的温度正常，我们需要使制造组件所采用的玻璃、EVA、背板都具有良好的透热性，以快速散发热量。所以我们需要对聚合物进行透热性测试，但是，目前还未有相应的透热性测试装置进行组件质量监控。
技术实现思路
本技术针对上述问题的不足，提出一种聚合物膜材透热性测试系统，它不仅能够对聚合物膜材进行透热性测试，而且其价格低廉，同时使用方便。本技术为解决上述技术问题提出的技术方案是:一种聚合物膜材透热性测试系统，包括温度控制加热模块、温度测量模块以及信息中央处理模块；所述温度控制加热模块包括温控加热器，温度测量模块包括一个以上的K型温度传感器，信息中央处理模块包括Agilent34970A数据采集器以及带有组态软件的上位机；所述K型温度传感器与温控加热器相对设置，所述K型温度传感器通过电信号传输线与Agilent34970A数据采集器进行信号连接，所述Agi I ent34970A数据采集器通过RS232通信方式与上位机进行通信；上位机对Agilent34970A数据采集器反馈的K型温度传感器所测量到的温控加热器的温度信号进行数据处理。优选的:K型温度传感器的个数为9个，且各K型温度传感器之间呈3*3矩阵分布。优选的:所述带有组态软件的上位机为带有Delphi软件的上位机。优选的:所述上位机为PC计算机。优选的:所述温控加热器的温度范围在180°C以内；所述Agilent34970A数据采集器的插盒为22路通道的插盒。本技术的一种聚合物膜材透热性测试系统，相比现有技术，具有以下有益效果:1.由于设置有一个以上的K型温度传感器、温控加热器、Agilent34970A数据采集器以及带有组态软件的上位机，所述K型温度传感器与温控加热器相对设置，所述K型温度传感器通过电信号与Agilent34970A数据采集器进行通信，所述Agilent34970A数据采集器通过RS232通信方式与上位机进行通信，使用时将聚合物膜材的正面放在温控加热器上，而在聚合物膜材的背面放置一个以上的K型温度传感器，通过传感器将热度信号转换成电信号，传到Agilent34970A数据采集器上，通过数据采集器的对电信号的处理后，再将信息传送到上位机组态软件，最终以可视化的界面将分析出来的数据分布图展现给造作人员，因此本技术不仅能够对聚合物进行透热性测试，而且使用方便，由于使用K型温度传感器，因此价格低廉。2.由于K型温度传感器的分布为3*3矩阵分布，因此能够全面的掌握在加热情况下的聚合物膜材的温度分布情况。【专利附图】【附图说明】图1是本专利技术实施例的聚合物膜材透热性测试系统的结构示意图；图2是图1中K型热电偶分布图；图3是聚合物膜材透热性测试系统的流程图；其中:1为温控加热器，2为K型温度传感器，3为聚合物膜材，4为Agilent34970A数据采集器，5为上位机PC。【具体实施方式】附图非限制性地公开了本专利技术一个优选实施例的结构示意图，以下将结合附图详细地说明本专利技术的技术方案。实施例本实施例的一种聚合物膜材透热性测试系统如图1、2所示，包括一个以上的K型温度传感器、温控加热器、Agilent34970A数据采集器以及带有组态软件的上位机，所述K型温度传感器与温控加热器相对设置，所述K型温度传感器通过电信号与Agilent34970A数据采集器进行通信，所述Agilent34970A数据采集器通过RS232通信方式与上位机进行通信。所述K型温度传感器的分布为3*3矩阵分布。所述组态软件为Delphi上位机软件。所述上位机为PC计算机。所述温控加热器的温度范围在180°C以内；所述Agilent34970A数据采集器的插盒为22路通道的插盒。本实施例的工作流程如图3所示:将聚合物膜材的正面放在温控加热器上，而在聚合物膜材的背面放置3*3矩阵分布的K型温度传感器，通过K型温度传感器将热度信号转换成电信号，传到Agi lent34970A数据采集器上，通过Agi lent34970A数据采集器的对电信号的处理后，再将信息传送到上位机PC组态软件，最终以可视化的界面将分析出来的数据分布图展现给造作人员。本实施例的聚合物膜材透热性测试系统以Agilent34970A仪器为数据采集核心，集成了 K型模块化的传感器，实现了对热传导下多路温度信号的在线测试，并结合相应的上位机软件实现了虚拟测试功能。虽然组件受到太阳的热辐射，但是组件内部的热量传递方式主要是热传导，同时热辐射无法准确控制温度，热传导更容易控制温度，所以我们模拟测试的环境就是在热传导的方式下实现的。具体情况如下:本实施例的聚合物膜材透热性测试系统的构成模块包括:A、温度控制加热模块；B、温度测量模块；C、信息中央处理模块。A、温度控制加热模块温度控制加热模块以普通电阻作为加热元件，温度范围在180°C以内。通过调节加在电加热器上的电压来调节输出的功率，同时通过多数带温度反馈，采用温度闭环的PID调节来实现对温度的控制。B、温度测量模块温度测量模块:以K型热电偶为核心的K型温度传感器，常用热电偶分度号有S、B、K、E、T、J等，这些都是标准化热电偶。其中K型也即镍铬一镍硅热电偶，它是一种能测量较高温度的廉价热偶。由于这种合金具有较好的高温抗氧化性，可适用于氧化性或中性介质中。它可长期测量1000度的高温，短期可测到1200度。在此情况下只能用于500度以下的测量。它比S型热偶要便宜很多，它的重复性很好，产生的热电势大，因而灵敏度很高，而且它的线性很好。虽然其测量精度略低，但完全能满足工业测温要求，所以我选择了K型热电偶。测量单位为0.1°C，测量精度在1.4%以上。但是K型热电偶由于信号较弱，需配置相应的信号调理电路，冷端补偿电路，Agilent34970A可以弥补这方面的设计缺陷，它使K型热电偶的优势得到了充分的发挥。为了尽量全面的掌握在加热情况下的聚合物膜材的温度分布情况，我们需要采用多点测试，如图2所示，K型热电偶成3*3矩阵分布。C、信息中央处理模块信息中央处理模块利用了模块化的硬件，结合了高效灵活的软件来完成各种测试、测量、自动化的应用。安捷伦仪器Agilent34970A作为核心的数据本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种聚合物膜材透热性测试系统，其特征在于:包括温度控制加热模块、温度测量模块以及信息中央处理模块；所述温度控制加热模块包括温控加热器，温度测量模块包括一个以上的K型温度传感器，信息中央处理模块包括Agilent34970A数据采集器以及带有组态软件的上位机；所述K型温度传感器与温控加热器相对设置，所述K型温度传感器通过电信号传输线与Agilent34970A数据采集器进行信号连接，所述Agilent34970A数据采集器通过RS232通信方式与上位机进行通信。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谢芳吉，马小彬，郑浩，张丹丹，
申请(专利权)人：江苏艾德太阳能科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：