测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上的测试机制造技术

本实用新型专利技术为测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上的测试机，包括测试箱体和连接在测试箱体上的上压盖，上压盖通过固定转轴连接在测试箱体上，测试箱体的上表面设置固定板，固定板上设置嵌槽，嵌槽内放置被测试产品，被测试产品上设有测试接触面，测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上。有益效果：在测试过程中，上压盖上的弹性测试针与被测试产品的测试接触面接触，弹性测试针不会在测试盘上滑动，接触位置精准，测试效率高，同时也避免了弹性测试针划伤测试盘而影响测试效果的情况，适应了产品的测试盘设计更加小的需求。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术为测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上的测试机，包括测试箱体和连接在测试箱体上的上压盖，上压盖通过固定转轴连接在测试箱体上，测试箱体的上表面设置固定板，固定板上设置嵌槽，嵌槽内放置被测试产品，被测试产品上设有测试接触面，测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上。有益效果：在测试过程中，上压盖上的弹性测试针与被测试产品的测试接触面接触，弹性测试针不会在测试盘上滑动，接触位置精准，测试效率高，同时也避免了弹性测试针划伤测试盘而影响测试效果的情况，适应了产品的测试盘设计更加小的需求。【专利说明】测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上的测试机
本技术涉及电子、电气测试等领域，特别涉及一种测试接触面与上压盖的固定转轴的轴心线在同一平面上的测试机。
技术介绍
一般电子产品如液晶显示屏、有机发光显示屏、微电子、电子、电气设备在研发和生产阶段，都会执行产品的性能测试，用于确认是否达到消费者使用该产品时的保证规格。现有电子产品测试机的设计是当产品放在固定板上进行通电测试时，产品的测试接触面与固定转轴的轴心线不在同一平面(或它们之间的平行距离大于10毫米)。在上压盖合上过程中，当上压盖上的弹性针触点与产品的测试接触面接触之后，在弹性针触点被测试接触面挤压回去时，弹性针触点与测试接触面之间会有相对滑动现象。这种滑动可能让弹性针触点滑出测试盘外，导致接触不良甚至没有连通，影响产品测试，这种滑动甚至可能划伤测试盘或产品，影响产品测试和产品品质。
技术实现思路
本技术根据现有技术中存在的问题，提供了一种测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上的测试机，使测试更准确。技术方案如下测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上的测试机，包括测试箱体和连接在测试箱体上的上压盖，其特征在于，所述上压盖通过固定转轴连接在测试箱体上，测试箱体的上表面设置固定板，所述固定板上设置嵌槽，所述嵌槽内放置被测试产品，所述被测试产品上设有测试接触面，所述测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上。作为进一步的改进，所述测试接触面与固定转轴的轴心线的平行距离为O?IOmm0作为进一步的改进，所述上压盖上设置用于测试的水晶头，所述水晶头上设置弹性测试针。作为进一步的改进，所述测试接触面上还设有测试盘，所述上压盖扣合时，弹性测试针与测试盘对应。有益效果本技术的有益效果是:在测试过程中，上压盖上的弹性测试针与被测试产品的测试接触面接触，弹性测试针不会在测试盘上滑动，接触位置精准，测试效率高，同时也避免了弹性测试针划伤测试盘而影响测试效果的情况，适应了产品的测试盘设计更加小的需求。【专利附图】【附图说明】下面结合附图与实施案例进一步说明本技术。图1为本技术的结构示意图；图2为本技术的右视图。图中标号:100、测试箱体 110、固定板 120、被测试产品121、测试接触面 122、测试盘 200、上压盖210、水晶头211、弹性测试针300、固定转轴【具体实施方式】 为使对本技术的结构特征及所达成的功效有更进一步的了解与认识，用以较佳的实施例及附图配合详细的说明，说明如下:如图1所示，测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上的测试机，包括测试箱体100和连接在测试箱体上的上压盖200，上压盖200通过固定转轴300连接在测试箱体100上，测试箱体100的上表面设置固定板110，固定板10上设置嵌槽，嵌槽内放置被测试产品120，被测试产品120上设有测试接触面121，测试接触面121与固定转轴300的轴心线在同一平面上。在设计安装时，使测试接触面121与固定转轴300的轴心线的平行距离控制在O~IOmm之间才能达到最佳效果。使用时,上压盖200上设置用于测试的水晶头210,水晶头210上设置弹性测试针211 ;被测产品120放置于嵌槽内，测试接触面121上设有测试盘122，在上压盖200扣合到测试箱体100上的过程中，弹性测试针211与测试盘122对应，当弹性测试针211的接触点与测试接触面121接触并被挤压回去时，弹性测试针311的触点与测试接触面121相对不滑动，也不会在测试盘122上滑动，避免弹性测试针划伤测试盘，接触位置精准，使测试更准确，提闻了广品的质量。综上所述，仅为本技术的较佳实施例而已，并非用来限定本技术实施的范围，凡依本技术权利要求范围所述的形状、构造、特征及精神所为的均等变化与修饰，均应包括于本技术的权利要求范围内。【权利要求】1.测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上的测试机，包括测试箱体和连接在测试箱体上的上压盖，其特征在于，所述上压盖通过固定转轴连接在测试箱体上，测试箱体的上表面设置固定板，所述固定板上设置嵌槽，所述嵌槽内放置被测试产品，所述被测试产品上设有测试接触面，所述测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上。2.根据权利要求1所述的测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上的测试机，其特征在于，所述测试接触面与固定转轴的轴心线的平行距离为O?10mm。3.根据权利要求1所述的测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上的测试机，其特征在于，所述上压盖上设置用于测试的水晶头，所述水晶头上设置弹性测试针。4.根据权利要求1或3所述的测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上的测试机，其特征在于，所述测试接触面上还设有测试盘，所述上压盖扣合时，弹性测试针与测试盘对应。【文档编号】G01R31/00GK203376417SQ201320397041【公开日】2014年1月1日 申请日期:2013年7月4日 优先权日:2013年7月4日 【专利技术者】邱励 申请人:上海储谱实业有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上的测试机，包括测试箱体和连接在测试箱体上的上压盖，其特征在于，所述上压盖通过固定转轴连接在测试箱体上，测试箱体的上表面设置固定板，所述固定板上设置嵌槽，所述嵌槽内放置被测试产品，所述被测试产品上设有测试接触面，所述测试接触面与固定转轴的轴心线在同一平面上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：邱励，
申请(专利权)人：上海储谱实业有限公司，
类型：实用新型
国别省市：