【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种超短电子脉冲脉宽测量装置，其特征在于：包括俄歇靶材、待测电子脉冲、载波包络相位锁定的疏周期超强近红外飞秒脉冲及电子能谱探测分析系统；所述载波包络相位锁定的疏周期超强近红外飞秒脉冲源所发出的脉冲与待测电子脉冲入射在俄歇靶上的同一空间点；所述待测电子脉冲通过碰撞电离过程从俄歇靶材电离出俄歇电子脉冲；所述电子能谱探测分析系统可接收电离出的俄歇电子脉冲。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王超，田进寿，赵卫，白永林，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。